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光譜橢偏儀SENresearch 4.0

免費樣品檢驗 48小時發(fā)貨 工廠直銷
100萬-200萬

產品規(guī)格:測量高厚度薄膜,提供最寬的光譜范圍,最高光譜分辨率等

公司所在地:重慶

產品庫存:現(xiàn)貨及定制

可供貨地區(qū):全國

其他說明:

最寬的光譜范圍和最高的光譜分辨率 采用 SSA 原理,,無活動部件 創(chuàng)新2C設計的完整穆勒矩陣 SpectraRay/4 綜合橢偏儀軟件 可按需定制及升級配件配置

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最寬的光譜范圍和最高的光譜分辨率 采用 SSA 原理,,無活動部件 創(chuàng)新2C設計的完整穆勒矩陣 SpectraRay/4 綜合橢偏儀軟件 可按需定制及升級配件配置收起

品牌:
SENTECH
型號:
SENresearch 4.0
用途范圍:
測量高厚度薄膜,、近紅外光譜等
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