品牌:
SENTECH
型號:
SENresearch 4.0
用途范圍:
測量高厚度薄膜,、近紅外光譜等
產品規(guī)格:測量高厚度薄膜,提供最寬的光譜范圍,最高光譜分辨率等
公司所在地:重慶
產品庫存:現(xiàn)貨及定制
可供貨地區(qū):全國
最寬的光譜范圍和最高的光譜分辨率 采用 SSA 原理,,無活動部件 創(chuàng)新2C設計的完整穆勒矩陣 SpectraRay/4 綜合橢偏儀軟件 可按需定制及升級配件配置
展開最寬的光譜范圍和最高的光譜分辨率 采用 SSA 原理,,無活動部件 創(chuàng)新2C設計的完整穆勒矩陣 SpectraRay/4 綜合橢偏儀軟件 可按需定制及升級配件配置收起