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薄膜質(zhì)量控制

免費樣品檢驗 48小時發(fā)貨 工廠直銷
200萬-900萬元

產(chǎn)品規(guī)格:薄膜堆棧測量,、邊緣夾持技術,、軟件操作

公司所在地:重慶

產(chǎn)品庫存:現(xiàn)貨及定制

可供貨地區(qū):全國

其他說明:

使用光譜反射計和橢圓光度計提供可靠且精確的薄膜堆棧測量 通過邊緣抓握技術進行背面保護 精確且可重復地測量 可根據(jù)生產(chǎn)控制和質(zhì)量控制的要求進行配置

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使用光譜反射計和橢圓光度計提供可靠且精確的薄膜堆棧測量 通過邊緣抓握技術進行背面保護 精確且可重復地測量 可根據(jù)生產(chǎn)控制和質(zhì)量控制的要求進行配置收起

品牌:
SENTECH
型號:
SENDURO???MEMS
功能:
可進行精確的薄膜堆棧測量
用途范圍:
傳感器和MEMS生產(chǎn)中全自動計量質(zhì)量控制
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